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首頁 > 新聞中心 > 恒溫恒濕試驗(yàn)箱GB/T 5170.5—1996標(biāo)準(zhǔn)簡述
| 恒溫恒濕試驗(yàn)箱GB/T 5170.5—1996標(biāo)準(zhǔn)簡述 |
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| 時(shí)間：2011/1/19 13:08:56 |
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中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備GB/T 5170.5—1996基本參數(shù)：檢定方法-濕熱試驗(yàn)設(shè)備,恒溫恒濕試驗(yàn)箱GB/T 5170.5—1996標(biāo)準(zhǔn)代替了GB 5170.5～5170.7—85.本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了濕熱試驗(yàn)設(shè)備的檢定項(xiàng)目、檢定儀器、測量點(diǎn)的位置與數(shù)量、檢定步驟和檢定數(shù)據(jù)的處理與檢定結(jié)果。
恒溫恒濕試驗(yàn)箱GB/T 5170.5—1996標(biāo)準(zhǔn)適用于對GB/T 2423.3《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法》、GB/T 2423.4《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Db:交變濕熱試驗(yàn)方法》、GB 2423.9《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Cb:設(shè)備用恒定濕熱試驗(yàn)方法》和 GB 2423.16《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)J:長霉試驗(yàn)方法》所用試驗(yàn)設(shè)備的周期檢定。同時(shí)也適用于類似設(shè)備的周期檢定。
下列恒溫恒濕試驗(yàn)箱標(biāo)準(zhǔn)所包含的條文，通過在本標(biāo)準(zhǔn)中引用而構(gòu)成為本標(biāo)準(zhǔn)的條文。本標(biāo)準(zhǔn)出版時(shí)，所示出版均為有效。所有標(biāo)準(zhǔn)都會被修訂，使用本標(biāo)準(zhǔn)的各方應(yīng)探討使用下列標(biāo)準(zhǔn)最新版本的可能性。
GB/T 2423.3—93 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法
GB/T 2423.4—93 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Db:交變濕熱試驗(yàn)方法
GB 2423.9—89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Cb:設(shè)備用恒定濕熱試驗(yàn)方法
GB 2423.16—90 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)J:長霉試驗(yàn)方法
GB/T 5170.1—1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 總則
GB 6999—86 環(huán)境試驗(yàn)用相對濕度查算表
檢定項(xiàng)目
檢定項(xiàng)目包括：
—溫度偏差；
—相對濕度偏差；
—溫度均勻度；
—溫度波動(dòng)度；
—升降溫特性；
—風(fēng)速。
本標(biāo)準(zhǔn)由國家技術(shù)監(jiān)督局1996-12-13批準(zhǔn)，1997-11-01實(shí)施。 |
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