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| 高低溫試驗(yàn)箱初始檢測(cè) |
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| 時(shí)間：2013/4/23 8:01:55 |
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高低溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)嚴(yán)酷程度由低溫與高溫溫度值、轉(zhuǎn)換時(shí)間和循環(huán)數(shù)確定，溫度可以參照GB/T2423.1-81《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法》和GB/T2423.2-81《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法》。
高低溫試驗(yàn)箱初始檢測(cè)要求對(duì)試驗(yàn)樣品進(jìn)行外觀檢查及電氣和機(jī)械性能的檢測(cè)，試驗(yàn)樣品應(yīng)在不包裝、不通電、準(zhǔn)備使用狀態(tài)或標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的其它狀態(tài)進(jìn)行試驗(yàn)，條件試驗(yàn)開始時(shí)，試驗(yàn)樣品的溫度應(yīng)是試驗(yàn)室溫度，在低溫和高溫下的試驗(yàn)時(shí)間內(nèi)，取決于試驗(yàn)樣品的熱容量，試驗(yàn)時(shí)間應(yīng)該為3H、2H、1H、30min或10min，如果試驗(yàn)時(shí)沒有特定標(biāo)準(zhǔn)，我們通常試驗(yàn)條件與長(zhǎng)的時(shí)間3H，（注:10min的試驗(yàn)時(shí)間適用于小試驗(yàn)樣品）。
試驗(yàn)箱過(guò)程中低溫箱內(nèi)溫度預(yù)先調(diào)節(jié)到要求的低溫，然后把試驗(yàn)樣品放入箱內(nèi)，低溫箱的溫度應(yīng)在標(biāo)準(zhǔn)下保持規(guī)定時(shí)間，試驗(yàn)樣品從低溫箱中取出并轉(zhuǎn)移到高溫箱中，轉(zhuǎn)換時(shí)間包括從一個(gè)箱取出和放入另一個(gè)箱的時(shí)間以及在試驗(yàn)室環(huán)境溫度下停頓的時(shí)間，轉(zhuǎn)換時(shí)間分為三種，由用戶自定義：2-3min（針對(duì)人為手動(dòng)調(diào)節(jié)溫度變化）、20-30S（針對(duì)工況需要嚴(yán)酷的條件）、小于10S（針對(duì)小試驗(yàn)樣品及嚴(yán)酷等級(jí)要求高的），高溫箱的試驗(yàn)方式與低溫箱一致，將樣品進(jìn)行轉(zhuǎn)換根據(jù)要求選擇循環(huán)次數(shù)，試驗(yàn)進(jìn)行了規(guī)定的時(shí)間后工，叵不能立即開始從低溫到溫溫或從高溫到低溫的下一個(gè)轉(zhuǎn)換（例如過(guò)夜或周末休息等原因），則可把試驗(yàn)樣品保留在低溫箱或高溫箱中（上海林頻儀器股份有限公司建議保存在低溫箱效果會(huì)更好些），一個(gè)循環(huán)結(jié)束時(shí)，試驗(yàn)樣品應(yīng)按相就標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行恢復(fù)程序，試驗(yàn)結(jié)束應(yīng)按相應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行評(píng)定，總結(jié)出真實(shí)可靠的科學(xué)依據(jù)。 |
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