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| 高低溫試驗(yàn)箱基本參數(shù)檢定方法標(biāo)準(zhǔn) |
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| 時(shí)間：2013/7/5 8:03:50 |
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標(biāo)準(zhǔn)中制定了高低溫試驗(yàn)箱在進(jìn)行周期檢定時(shí)的檢定項(xiàng)目、檢定用主要儀器及要求、檢定條件、測(cè)量點(diǎn)當(dāng)我量及布放位置、檢定步驟、數(shù)據(jù)處理及檢定結(jié)果等內(nèi)容，適用于GB 2423.1-89《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法》、GB 2423.2-89《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法》和GB 2423.22-87《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法》、GB 2423.2-89《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)N：溫度變化試驗(yàn)方法》所用試驗(yàn)設(shè)備的周期檢定。
高低溫試驗(yàn)箱基本參數(shù)檢定方法的制定引用了如下標(biāo)準(zhǔn)：
GB/T 5170.1-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 總則
GB 2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法
GB 2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法
GB 2423.22-87 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)N：溫度變化試驗(yàn)方法
檢定項(xiàng)目為：溫度偏差、溫度平均變化速率、風(fēng)速、相對(duì)濕度、溫度恢復(fù)時(shí)間。 |
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